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    雙電測四探針測試儀 雙電測四探針軟件分析系統(tǒng)

    • 簡單描述
    • 在計算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。
    • 產(chǎn)品型號:  DL10-9
    • 更新時間:  2024-11-27
    • 訪問次數(shù):  2206
    詳細(xì)介紹

    雙電測四探針測試儀 雙電測四探針軟件測試系統(tǒng)

    DL10-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合亦稱雙位組合測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進(jìn)行動態(tài)的自動修正,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些,用目前大量使用的常規(guī)四探針測量方法所生產(chǎn)的儀器是無法實(shí)現(xiàn)的。

    DL10-9雙電測四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運(yùn)行在計算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序。測試程序在計算機(jī)與DL10-RTS-9型四探針測試儀連接的狀態(tài)下,通過計算機(jī)的并口實(shí)現(xiàn)通訊。

    測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并實(shí)時采集兩次組合模式下的測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機(jī)中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析

    技 術(shù) 指 標(biāo):

    測量范圍電阻率:10-4105Ω.cm(可擴(kuò)展

    方塊電阻:10-3106Ω/可擴(kuò)展;

    電導(dǎo)率:10-5104s/cm

    電阻:10-4105Ω;

    可測晶片厚度≤3mm

    可測晶片直徑140mmX150mm(S-2A型測試臺;

    200mmX200mm(S-2B型測試臺;

    400mmX500mm(S-2C型測試臺

    恒流源電流量程分為1μA、10μA100μA、1mA10mA、100mA六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)

    數(shù)字電壓表量程及表示形式:000.00199.99mV;    

    分辨力:10μV

    輸入阻抗:>1000MΩ;

    精度:±0.1%;

    顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動顯示;

    四探針探頭基本指標(biāo)間距:1±0.01mm

    針間絕緣電阻:≥1000MΩ;

    機(jī)械游移率:≤0.3%;

    探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm

    探針壓力:516牛頓總力;

    四探針探頭應(yīng)用參數(shù)見探頭附帶的合格證

    模擬電阻測量相對誤差

    JJG508-87進(jìn)行)0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1

    整機(jī)測量zui大相對誤差用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測試≤±4%

    整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤4%

    計算機(jī)通訊接口并口

    標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境溫度:23±2℃;

    相對濕度:≤65%;

    無高頻干擾;

    無強(qiáng)光直射;

     

    北京北信科儀分析儀器有限公司

    地址:北京市昌平區(qū)西三旗龍旗廣場2號樓

    :李

     

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